LUNA6415作为光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具，得益于其超高的灵敏度和空间分辨率（20μm）。LUNA6415还具备单台仪器通过选择反射或者透射模式就能完成IL、RL、长度等所有测试，大大降低了测试成本，同时简化了测试流程。相比其他测试系统，将大大增加测试产量等优势。